以色列理工學院(Technion)與德國埃爾朗根-紐倫堡大學(FAU)的聯合團隊在《自然・通訊》(Nature Communications)發表論文《Imaging the field inside nanophotonic accelerators》,首次展示了一種基于光子誘導近場電子顯微鏡(PINEM)的頻調諧深亞波長近場成像技術。研究團隊通過改裝透射電子顯微鏡(TEM),結合連續波(CW)激光和能量過濾技術,成功“拍攝”了兩種主流納米光子加速器(雙柱結構與逆設計共振結構)內部的光場分布,揭示了設計與實際制備的偏差,并通過3D仿真闡明了制造公差對性能的影響。這一成果為高效納米光子器件的設計打開了新視角。
重要發現
01實驗技術:用電子“看見”光場的納米級細節
傳統光學顯微鏡受衍射極限限制,無法解析亞波長尺度的光場。
研究團隊創新性地改裝了透射電子顯微鏡(TEM),使其具備能量過濾透射電子顯微鏡(EFTEM)功能:
電子束首先穿過納米光子加速器(DLA)通道,與內部光場相互作用后,通過能量過濾器篩選出能量增加的電子(即被加速的電子),其空間分布直接反映了加速場的強度分布。
實驗中使用的連續波(CW)激光(波長1064nm)相比傳統飛秒脈沖激光有三大優勢:
弱場線性響應:避免電子能量飽和,確保信號強度與場強呈線性關系;
連續電子束:更高的電子通量和光束質量,提升成像信噪比;
窄帶光譜掃描:亞納米級波長調諧能力,可解析器件的精細光譜響應。
02兩種主流設計的“意外”光場分布逆設計共振結構(Inverse-designed):通過算法優化的封閉通道結構。實驗顯示其場分布接近預期的對稱模式(雙曲余弦分布),且對制造誤差更魯棒——結構直徑偏差在-40nm至+4nm范圍內時,仍能保持對稱場分布,而雙柱結構僅在±4nm范圍內穩定。
033D仿真揭示制造誤差的關鍵影響創新與亮點
01突破觀測極限:深亞波長分辨率與光譜解析力
該技術實現了亞10納米級空間分辨率和亞納米級光譜分辨率,首次在實驗中直接觀測到納米光子加速器內部的三維光場分布。這打破了傳統表征手段(如掃描電鏡僅能觀測結構表面,無法獲取場分布)的局限,為納米光學器件的“所見即所得”提供了關鍵工具。
總結與展望
這項研究通過可視化納米光子加速器的內部光場,揭示了設計與實際制備之間的微妙差異,為優化下一代緊湊型粒子加速器提供了關鍵數據。當前,納米光子加速技術的瓶頸在于電子軌跡控制和多模塊級聯,而精確的場分布信息是突破這一瓶頸的前提。
未來,研究團隊計劃將該技術擴展至三維場斷層掃描:通過激光聚焦掃描或芯片集成孔徑,逐段解析器件沿電子傳播方向的場分布(如圖5所示),結合去卷積算法進一步提升分辨率。這將推動復雜共振結構和變周期加速模塊的設計,助力實現更高加速梯度(目前實驗中為0.2MeV/m,而飛秒激光驅動可達GeV/m級)和更緊湊的裝置尺寸。
從更廣泛的應用看,該技術不僅適用于加速器,還可拓展至納米光學天線、光電子集成器件等領域,幫助科學家理解光與物質在亞波長尺度的相互作用。隨著超快電子顯微技術與逆設計算法的結合,我們正邁向一個“按需定制光場,精準操控量子”的新時代——或許在不久的將來,便攜式醫療X射線源、桌面級粒子對撞機等科幻場景,將借助這些納米級“光場地圖”變為現實。
論文信息DOI:10.1038/s41467-023-38857-z.