xrf熒光分析儀

    XRF熒光分析儀能夠對固體、粉末、液體、懸浮液、過濾物、大氣塵埃以及薄膜樣品進行定性和定量分析，其含量從ppM級別到更高。X熒光光譜儀在無損檢測方面展現出其他分析技術無法比擬的優勢，通過X射線光譜儀的掃描方法，可以探測土壤表層以下的元素，這也是X射線無損檢測技術的重要應用領域。

    優勢：
    1、制樣過程簡單：通常采用物理制樣方法。試樣經過簡單的破碎和研磨，制成粉末后進行壓片或熔融處理。
    2、分析范圍廣泛：理論上可以分析從鈉（Na）到92號元素鈾（U）之間的所有元素。
    3、測量范圍廣泛：可以分析從0.001%到更高的濃度。

    XRF熒光分析儀操作時的注意事項：
    1、在測量時，請勿突然切斷電源。
    2、請勿直接分析低熔點樣品，例如低熔點瀝青、油漆等，因為某些樣品在室溫下呈固體狀態，經過射線照射后可能會融化。如果液體滴落到光管頭上，可能會導致儀器損壞。如果需要進行分析，請將樣品放入液體杯中進行測量。
    3、在分析液體樣品和粉末樣品時，必須使用氦氣模式進行測量，并且不能進行抽真空處理。
    4、請避免長時間分析液體樣品，液體杯的照射時間通常不應超過半小時。
    5、請勿對不夠堅固的樣品進行分析，例如有裂紋的壓片。如果大塊樣品掉落在樣品室中，無法再進行分析，請及時通知三翔分析儀器。
    6、XRF熒光分析儀的光管頭上的窗是有毒且昂貴的，一旦損壞，整根光管將無法使用。請注意：切勿用任何物體碰觸光管頭上的窗。如果有樣品掉落在窗面上，只能用吸耳球輕輕吹掉窗上的樣品，切勿使用酒精棉球擦拭。

    XRF熒光分析儀的優點：
    1、分析速度很快。測定所需的時間與測定的精密度有關，但通常較短，樣品中的所有待測元素一般在2到5分鐘內即可完成測定。
    2、在高分辨率的精密測量中，可以觀察到波長變化等現象，特別是在軟X射線范圍內，這種效應尤為明顯。波長的變化可用于化學位的測定。
    3、非破壞性分析。這種測定不會引起樣品的化學狀態變化，也不會導致樣品的散失。相同的樣品可以多次進行測量，且結果的重復性良好。
    4、X射線熒光分析是一種物理分析技術，因此它可以對屬于同一化學性質族的元素進行分析。
    5、分析的精確度很高。
    6、制樣過程簡單，固體、粉末和液體樣品均可進行分析。
    使用注意事項：
    1、為了保持儀器外觀的良好狀態，應該定期用軟布清潔其表面，以去除灰塵。
    2、在將樣品放入樣品腔時，必須確保環境清潔，以防止樣品中的塵粒掉落至腔內，避免污染X光管和探測器窗口，這樣可能導致測量不準確并損壞探頭。
    3、樣品蓋需要使用酒精棉球進行徹底清潔。
    4、為確保XRF熒光分析儀長期正常運行，需要定期對各項參數進行檢測和調整。
    5、儀器只能由經過培訓的人員操作，其他任何人不得操作。
    6、在使用、保存和搬運時，務必要格外謹慎，以防止碰撞、外表受損或內部線路損壞。

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