使用Avio 500 ICP-OES根據倫敦金屬交易所要求測定純鎳中雜質

    鎳（Ni）由于其高溫和低溫下的耐腐蝕性和強度，是最廣泛使用的金屬之一。 它最常用于鋼的生產，也是各種其他合金中的重要成分。還用于電子，電鍍和可充電電池中。 這些不同的用途需要不同純度的鎳，在某些應用中需要高純度的鎳，而對于其他應用領域低等級的鎳就能滿足需求了。
    倫敦金屬交易所（LME）就不同金屬雜質的鎳發布了不同規格的要求。 本文的重點是利用 PerkinElmer Avio ® 500 ICP 發射光譜儀（ICP-OES）對鎳中的雜質進行分析，使用“原料鎳要求”作為待測元素和所需濃度的指南。

實驗部分

• 樣品

    所有分析在 1％ Ni 溶液中進行，以模擬純 Ni 消解液（介質為 5％硝酸（v /v））。為了檢查方法準確性，按照“鎳標準規范”（99.80％），“原料鎳要求”中規定的含量，進行加標回收實驗。檢測使用外標法進行，濃度水平為0.25,0.5 和 1.0ppm 混合標準溶液，介質為 5％硝酸。

• 儀器

    使用 Avio 500 ICP-OES 進行測試，標準進樣系統配置和參數用于所有分析。 炬管位置設置為-4。 在考慮氬氣成本時，Avio 500 的同步雙向觀測功能和低氬消耗（總共 9 升 /分鐘）可大大節省成本。

結果與討論

    表 3 顯示了 99.80％（wt%）的鎳的 ASTM 標準規范，以及 1％ Ni 溶液中各元素的濃度（相當于 100 倍稀釋）。將混合標準溶液加入到 1％ Ni 溶液中后的所有回收率在 ±10％內，表明儀器能夠在低濃度下準確測量這些元素。Bi 和 Sn 受到 Ni 基體明顯的光譜干擾。使用多譜線擬合 （MSF）建立模型可將干擾的影響去除，從而滿足測量準確度。

• 結論

     本文證明了PerkinElmer Avio 500 ICP-OES可對高純Ni （1%Ni 溶液模擬）的雜質進行準確分析，符合倫敦金屬交易所規定的純鎳要求。通過使用 MSF 克服了高基體樣品的光譜干擾，所有元素檢出限都在規定的范圍以內。



參考文獻
1. "Special Contract Rules for Primary Nickel", The London
Metal Exchange.
2. "Multicomponent Spectral Fitting"”, Technical Note,
PerkinElmer, 2016.

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