Avio200 ICP-OES微波制樣方案滿足危害性物質限制（RoHS）指令要求

瀏覽次數：7633　發布日期：2019-2-14　來源：本站　僅供參考，謝絕轉載，否則責任自負

為了解決廢棄電子產品中的有毒金屬污染問題，危害性物質限（RoHS）指令規定了鎘、六價鉻、汞和鉛在每種電子設備中允許存在的最高含量。為了達到RoHS 指令要求，最簡單也最高效的方法是使用微波消解制樣，并使用全譜直讀等離子體發射光譜儀（ICP-OES）進行分析。盡管ICP-OES 不連接液相色譜儀無法區別元素的不同形態，但是它能夠測量鉻的總含量，以確定其是否超過規定水平。如果超過限值，則可以進一步制樣，并采用其他技術手段分析樣品。

本文將重點關注如何使用ICP-OES 分析電子產品中的多種樣品類型，以確保符合RoHS 指令要求，以及制樣注意事項。

鑒于RoHS 指令涵蓋的樣品類型繁多，一一評估是不可能完成的。因此，我們選取具有代表性的若干種樣品類型進行分析：塑料、導線絕緣層、焊料、電線和一塊電路板，除焊料是全新的以外，所有樣品均取自廢棄的電子產品。所有樣品均置于PerkinElmer Titan MPS™ 微波制樣系統中消解。所有分析工作都是使用PerkinElmer Avio™ 200 ICP發射光譜儀（軸向模式）完成的。

由于RoHS 指令規定的濃度值對于Avio 200 的檢測能力來講可以輕松實現，因此可以使用更短的自動積分時間，在不影響準確度的情況下提高分析速度和樣品處理量。Avio 獨特的Flat Plate™ 平板等離子體技術確保所有分析都是在僅需消耗8 L/min 氬氣的條件下進行的。再加上樣品分析效率的提高，能夠最大限度降低氬用量。

為了證明校準曲線的準確度，在讀取完校準曲線后，直接對含量為RoHS 水平十分之一（溶液中）的標樣進行分析。表1 顯示了回收率，說明在低含量和高含量下，都能夠獲得準確結果。