OA-ICOS激光痕量氣體及穩定性同位素分析技術
LGR 自1994 年創立以來，一直致力于開發創新的激光測量技術，并將之應用于多種氣體、液體和固體的測量。LGR 的研發人員在光學診斷、激光光譜、物理化學與微電子系統技術等方面擁有豐富的專業知識，并且在這些專業領域擁有多項專利，LGR 將之持續應用于激光分析設備的研發和改進。
LGR 在加州Mountain View 地區的硅谷中心擁有12,000 平方英尺的研發中心，主要由光學工藝實驗室、電子機械實驗室、測試中心和生產車間等部分來組成，這保證了我們的科研人員可以持續不斷地開發和改進我們的激光設備。同時我們也向國際上多家同行業的公司提供OEM 生產線以及對外設計和加工服務。我們自豪地宣布，我們獨特的創新能力和專利技術保證了我們始終處在激光氣體測量技術開發的最前沿，國際上多家公司利用我們的技術和產品進行OEM 的生產。如果您尋求新的傳感器系統或基于CRDS（光腔衰蕩光譜技術）和OA-ICOS（離軸積分腔輸出光譜）原理的激光產品，我們可以為您提供及時周到的服務。
作為一項全新的測量技術，LGR 的儀器用途非常廣闊，目前主要應用在大氣監測與痕量氣體測量、工業過程檢測與控制、海洋水體的碳封存研究、渦度相關通量測量和箱室法通量測量、水文應用與大氣科學等方面。自創立以來，LGR 產品很快地得到了國際上的廣泛應用。目前全線產品的銷售已經超過了300 套，OEM 產品的銷售更加廣泛。其中痕量氣體量、通量和穩定同位素測量設備的主要用戶包括國際原子能機構、加州理工學院、ETHZurich、Lund 大學、USGS、NOAA、NASA、UC Berkeley 等幾百家著名研究機構和大學。
1998 年A. O′ Keefe 提出積分腔輸出光譜技術(ICOS) 。 ICOS 技術也是使一束激光在光腔中不斷的反射，但是測量透過光腔的時間積分光強，通過與入射光強的差值，計算待測物質的濃度，這種方法更接近于傳統的直接吸收光譜，更符合Beer-Lambert定律。 與CRDS 技術相比，ICOS 技術設備結構更為簡單，對環境要求更低，測量頻率更高，能適應更多要求。
隨后，A. O′ Keefe 又在此基礎上改進連續積分腔輸出光譜(CW-ICOS) 技術。2002 年LGR的D. S. Baer 等再次進行改進，采用了離軸入射方式（OA-ICOS），消除了光腔內多次反射的干涉效應。不但繼承了ICOS 技術，結構簡單，測量頻率高和高耐受性等優點，還提高了靈敏度，降低了成本。
更多的關于此技術的詳情請查看：http://www.li-ca.com/download/info/29.htm。
