澤泉科技發布LemnaTec系統應用文獻

近期澤泉科技正式發布46篇LemnaTec系統應用文獻（下載地址）。這些文獻全部由LemnaTec公司專家撰寫，澤泉開放實驗室翻譯，內容涵蓋了德國LemnaTec公司Scanalyzer 3D、Scanalyzer HTS和Scanalyzer PL系統的多方面應用，包括植物形態測量、植物評價、根系測量、熒光測量、熱成像測量、高通量3D表型分析、高通量篩選、自動灌溉和稱重、種子純度分析、生物量測量、浮萍生長抑制測定、擬南芥表型分組、番茄表型、種子表型、傳送方案、移動區域概念、灌溉方式、從基因到表型等等內容。

LemnaTec是目前國際上最富盛名的高通量植物表型平臺提供商，其核心產品“全自動高通量植物（3D）成像系統”是國際上唯一的商業化表型平臺，客戶包括先鋒、巴斯夫、先正達、拜耳、孟山都、Keygene等農業巨頭和阿德雷德大學（澳大利亞植物表型組學中心）、法國農科院（法國植物表型組學中心）、Aberysthwyth大學（英國植物表型組學中心）、德國IPK、加拿大McGill大學、印度植物表型組學中心等等單位。

澤泉科技作為LemnaTec在大中華區的獨家代理和技術合作伙伴，一直致力于中國的植物表型組學、植物功能基因組學和作物育種研究。這些應用文獻是澤泉開放實驗室在獲得LemnaTec授權后花費1年多時間翻譯整理的，有助于廣大客戶進一步了解LemnaTec系統的功能、特性和其能幫助我們實現怎樣的科研目的。