愛建納米公司STM介紹

上海愛建納米科技發展有限公司是一家專業從事納米科技研究開發的民營高技術企業。公司注冊在東海之濱享有“東方明珠”美譽的上海浦東張江高科技園區，擁有一個由國內外專家組成的顧問班子以及由一批朝氣蓬勃的年輕人組成的技術開發、經營、管理的隊伍。

公司研制開發的基于DSP數字控制的掃描探針顯微鏡（SPM），其主要技術指標已達到國際先進水平。公司目前生產的掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM），圖像清晰，性能穩定；專為教學實驗設計的NanoView 2000型掃描隧道顯微鏡（STM），配有相應的實驗教材，操作簡便、穩定可靠；對于科研型、工業型掃描探針顯微鏡（SPM），公司有能力按照客戶的科研生產需要，設計制造專用的SPM系統。公司愿同客戶合作，共同完成科研項目及新的研究方向的開發。

公司開發的基于Internet的STM遠程控制系統，已實現了在上海通過因特網操縱北京的SPM儀器，在上海實時獲得良好的北京樣品原子圖像。該成果已被國家科學技術部和中國科學院選定為中德技術合作、交流的五個重大項目之一。

公司在國際互聯網上首次創辦了網上納米雜志《iNano》()，專門介紹納米科技的有關論文、納米科技的最新發展，為關注納米科技的機構及個人提供一條信息流通渠道。本公司秉承“以人為本、尊重人才、不斷創新”的宗旨，竭誠歡迎海內外人士和機構加盟合作，共同促進中國納米科技的發展。

Shanghai AJ Nanoscience Co., Ltd. is a hi-tech enterprise registered at Zhangjiang Hi-tech Park in Pudong, Shanghai, engaging in the research and development of nanoscopic devices. Supported by a strong scientific advisory panel including several leading experts in China and aboard, the company is owned, organized and managed by a team of energetic young scientists.

The products, NanoView series SPMs, are based on the DSP control technique. Their main technical specifications reach international lever. NanoView series SPMs can provide high spatial resolution, good stability, and quick examination. The NanoView 2000 STMs designed for classroom teaching and practicing use are easy to maintain and easy to use. Other models for scientific research and industrial applications can be custom-made for specific demands.

AJ has made good progresses towards developing remote-control STM systems. We are now able to operate STM in Beijing through Internet in Shanghai and get on-line images in Shanghai. The Ministry of Science and Technology and Chinese Academy of Sciences designated this as one of five biggest cooperation projects between Germany and China.

　

AJ is also publishing the first Internet magazine on nanoscience?/FONT>iNano (). The purpose is to collect information concerning nanotechnology, to report new discoveries and new developments, and to provide a platform for interactions between organizations and scientists, China and aboard, research institutes and industrial groups. We welcome any comments and suggestions to promote the development of nanotechnology, especially in China.

NanoView 2000教學型STM

NanoView 2000型掃描隧道顯微鏡（STM）性能穩定，分辨率高，能在一般實驗環境下方便、穩定地得到高序石墨（HOPG）表面原子圖像；儀器的掃描范圍大，用同一掃描管既可進行小范圍掃描以獲得原子圖像，又可進行較大范圍的掃描來進行樣品整體形貌的分析。它適用于光柵、納米團簇等樣品，能滿足多種實驗教學內容的需要；儀器的軟件系統采用WINDOWS98操作平臺，圖像處理功能強。

產品主要技術指標：

樣品尺寸：φ10mm

掃描范圍：3μm×3μm

分 辨 率： XY方向1?，Z方向0.1?，高序石墨（HOPG）常規原子分辨

針尖驅近行程及精度：行程>10mm，精度<0.1μm，步進馬達自動驅進

懸吊式抗震裝置

采用DSP數字控制系統，全部采用16位 DAC，高壓±100V輸出

掃描速度： 最快5000點/秒

PC機與控制箱RS232接口

Windows98界面,配合相應教材

掃描模式：恒流模式、恒高模式、I梀曲線、I梈曲線

掃描方式：連續掃描,可改變掃描方向

采樣數： 256點/線

計算機離線處理：斜面校正，濾波，平滑，反轉，FFT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作等

電氣防護安全：絕緣電阻>5MΩ，泄漏電流<5mA；介電強度：1500V,1分鐘電壓試驗

　

Nanoview 2000 system for teaching

System Specifications:

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 3μm×3μm

Resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical range (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

Tip engagement: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration isolation: Suspended mode provided

Electronics Module: DSP based control electronics , 16bit DAC

HV output: +100 High Voltage Amplifiers

Scan speed: Maximum 5000 pixels/second

Interface connection: RS232 serial port

Software: Operates under windows 98

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Image capturing features: single and continuous scan

Sample per scan line: 256

Image processing and other offline function: planefit, filter ,smooth，invert ,FFT，zoom and cut，section，3-D display.

　

NanoView科研型STM/AFM

NanoView科研型STM/AFM是廣大科研人員從事納米科學研究的有力工具。我公司隆重推出NanoView型、NanoViewⅡ型、NanoViewⅢ型SPM產品，該系列產品的外觀設計新穎，產品性能優越，儀器操作簡便，整機性能領先于國內產品，同時和國外同類產品相比，具有很高的性能價格比，是21世紀發展納米科技的必備儀器。

　

主要功能及技術指標：

　

頭部系統

樣品尺寸：φ10mm

掃描范圍：3μm×3μm

STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常規原子分辨

AFM分辨率：以云母表面晶格為準，XY方向2?，Z方向<0.5?

針尖逼近行程及精度：行程≥10mm，精度≤0.1μm

懸吊式抗震裝置

步進馬達自動驅近

　

　

電子學控制系統

DSP全數字控制

采用16位 DAC

掃描速度：最快5000點/秒

高壓放大器動態范圍：200V

PC與控制箱RS232接口

電氣防護安全：絕緣電阻>5MΩ,泄漏電流<5mA；介電強度：1500V， 1分鐘電壓試驗

　

軟件系統

Windows98界面，提供標準的中文版或英文版菜單和工具條

掃描模式：

STM：恒流模式、恒高模式，可觀察I梀曲線和I梈曲線、具備針尖修飾功能

AFM：contact（接觸）模式、可觀察F梈曲線

采樣數： 256點/行

掃描方式：連續掃描,可改變掃描方向

可同時打開兩個實時圖像窗口，分別對應于兩個圖像通道

可方便地進行實時控制參數的設置和修改，并可實時地反映到圖像窗口中

離線處理軟件：包括斜面校正，濾波，平滑，反轉，FFT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作等功能。

圖像格式可轉成標準的BMP格式

提供頂視圖，線三維，面三維等視圖方式

具有常規的圖像處理及圖像分析功能（FFT 濾波、掃描線噪聲消除等）

　

NanoView system for science & research (STM&AFM)

System Descriptions and Specifications　

　

Scan Head

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 3μm×3μm

STM resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

AFM Resolution:

(△x,△y)　: <2?，

Vertical (△z): <0.5?(routine　atomic resolution　on mica surface)

Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration Isolation: Suspended mode provided

　

　

Controller Electronics

DSP based control electronics , 16bit DAC

Scan speed: Maximum 5000 pixels/second

HV output: +100 High Voltage Amplifiers

Interface connection: 　parallel port

　

　

Software

Operates under Windows98 　

STM

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Tip modification　and nano lithography.　

　

● AFM

Scan mode : Contact mode

Spectroscopic modes: F-Z

Sample per scan line: 128、256 or 512

Image capture features: Single and continuous

Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut,　section, zoom and 3-D display, BMP export.

　

　

　

NanoViewⅡ科研型STM/AFM

主要功能及技術指標：

頭部系統

樣品尺寸：φ10mm

掃描范圍：6μm×6μm/20μm×20μm（可選）

STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常規原子分辨

AFM分辨率：以云母表面晶格為準，XY方向2?，Z方向<0.5?

針尖逼近行程及精度：行程≥20mm, 精度≤0.1μm

懸吊式抗震裝置

步進馬達自動驅近

　

電子學控制系統

DSP全數字控制

采用高速16位 DAC

掃描速度：最快達62500點/秒

高壓放大器動態范圍：400V

可對壓電陶瓷管的掃描過程進行自動校正

開放性結構極易匹配其他品牌SPM的頭部系統

高性能DSP支持離線圖像處理

PC與控制箱并行接口

電氣防護安全：絕緣電阻>5MΩ，泄漏電流<5mA，介電強度：1500V 1分鐘電壓試驗

軟件系統

Windows98界面，具有標準的菜單和工具條

掃描模式：

STM：恒流模式、恒高模式，可觀察I梀曲線和I梈曲線、具備針尖修飾功能、納米刻蝕

AFM：contact（接觸）模式、可觀察F梈曲線

采樣數：128、256、512點/行

可同時打開三個實時圖像窗口，分別對應于三個圖像通道

實時控制參數的設置、修改方便，實時性好，能立即反映到圖像窗口中

計算機離線處理： 斜面校正，濾波，平滑，反轉，FFT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作。

離線部分能同時打開多幅圖像

圖像格式可轉成標準的BMP格式

提供頂視圖，線三維，面三維等視圖方式

其它圖像處理及圖像分析功能（FFT濾波、掃描線噪聲消除等）

　

NanoView Ⅱ system for science & research (STM&AFM)

Technology index and function　

Scan Head

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm (optional)

STM resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

● AFM Resolution:

(△x,△y)　: <2?，

Vertical (△z): <0.5?(routine　atomic resolution　on mica surface)

Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration isolation: Suspended mode provided

　

　

Controller Electronics

DSP based control electronics, 16bit DAC

Scan speed: Maximum 62500 pixels/second

HV output: +200 High Voltage Amplifiers

Interface connection: parallel port

Automatic calibration of piezoelectric scanner

Support for other kinds of SPM head

　

　

　

Software

Operates under Windows98 　

STM

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Tip modification　and nano lithography.　

AFM

Scan mode : Contact mode

Spectroscopic modes: F-Z

Sample per scan line: 128、256 or 512

Image capture features: Single and continuous

Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut,　section, zoom and 3-D display, BMP export.

　

　

NanoViewⅢ科研型STM/AFM

主要功能及技術指標：

頭部系統

樣品尺寸：φ10mm

具備振動TM 模式，功能類似美國DI公司的Tapping ModeTM

掃描范圍：6μm×6μm/20μm×20μm（可選）

STM分辨率： XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常規原子分辨

AFM分辨率：以云母表面晶格為準，XY方向2?，Z方向<0.5?

振動TM模式分辨率：XY方向2?，Z方向<1?

針尖逼近行程及精度：行程≥20mm，精度≤0.1μm，

懸吊式抗震裝置

步進馬達自動驅近

　

電子學控制系統

DSP全數字控制

采用高速16 bit DAC

掃描速度：最快達62500點/秒

高壓放大器動態范圍：400V

自動校正壓電陶瓷管掃描

開放性結構極易匹配其他品牌SPM的頭部系統

高性能DSP支持離線圖像處理

PC與控制箱并行接口

電氣防護安全：絕緣電阻>5MΩ，泄漏電流<5mA，介電強度：1500V 1分鐘電壓試驗

軟件系統

Window98界面，具備振動TM模式

掃描模式：

STM：恒流模式、恒高模式，可觀察I梀曲線和I梈曲線、具備針尖修飾功能、納米刻蝕

AFM：contact（接觸）模式、可觀察F梈曲線、摩擦力模式、極化力模式、振動TM模式、磁力模式、靜電力模式

采樣數：128、256、512點/線

可同時打開三個實時圖像窗口，分別對應于三個圖像通道

實時控制參數的設置、修改方便，實時性好，能立即反映到圖像窗口中

計算機離線處理： 斜面校正，濾波，平滑，反轉，FFT，剪切，剖面線，三維顯示，瀏覽，文件操作

離線部分能同時打開多幅圖像

圖像格式可轉成標準的BMP格式

提供頂視圖，線三維，面三維等視圖方式

其它圖像處理及圖像分析功能（FFT濾波、掃描線噪聲消除等）

　

NanoView Ⅲ system for science & research (STM&AFM)

System Descriptions and Specifications　

Scan Head

Sample size: Maximum 10mm×10mm

Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm(optional)

STM resolution:

(△X , △Y): <1?

Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)

AFM resolution:

(△x,△y)　: <2?，

Vertical (△Z): <0.5?(routine　atomic resolution　on mica surface)

Vibrating Mode TM (△x,△y)　: <2?，

Vertical (△z): <1?

Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement

Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm

Vibration isolation: Suspended mode provided

　

　

Controller Electronics

DSP based control electronics, 16bit DAC

Scan speed: Maximum 62500 pixels/second

HV output: +200 High Voltage Amplifiers

Interface connection: parallel port

Automatic calibration of piezoelectric scanner

Support for other kinds of SPM head

　

　

Software

Operates under Windows98 　

STM

Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)

Spectroscopic modes: I-V, I-Z

Tip modification　and nano lithography.　

AFM

Scan mode: Contact Mode, Friction force Mode, Polarization Force Mode, Vibrating Mode, Magnetic Force Mode, Electrostatic Force Mode

Spectroscopic modes: F-Z

Sample per scan line: 128、256 or 512

Image capture features: Single and continuous

Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut,　section, zoom and 3-D display, BMP format export.

　

2000年11月12日