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574 次半導體制造中的掃描電鏡之從工藝診斷到失效分析 2025-7-2
掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）作為半導體行業中不可或缺的高精度檢測工具，憑借其納米級分辨率和強大的表征能力，已廣泛應用于芯片制造、材料開發、失效分析、工藝優化
1084 次離子研磨儀和掃描電鏡在失效分析研究中的應用 2023-12-5
離子研磨儀和掃描電鏡-失效分析研究的好搭檔失效分析是經驗和科學的結合，失效分析就如醫生，工藝設計之初，要有預防對策；產品生產后，進行體檢，找出其中的隱患，給出預防辦法去防止；失效發生
1721 次 Attolight CL-SEM系統在光電失效分析方面的應用 2022-8-18
氮化鎵(GaN)是一種廣泛應用于發光二極管(led)等光電器件的材料。LED結構主要是通過外延生長在藍寶石襯底上，但由于成本原因，硅成為藍寶石的代替者。然而，硅和氮化物之間巨大的不配合和熱膨